Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении Техносфера 978-5-94836-385-1, Шварц А., Кумар М., Адамс Б., Филд Д. (ред.)

Цена: 1569 руб.

Цены на книгу в магазинах:
	My-shop.ru	- 845 руб. 0%
	Лабиринт	- 975 руб. 0%
	books.ru	- 1324 руб. 0%
	Буквоед	- 1569 руб. 0%
	Читай-город	- 1569 руб. 0%
	book24 RU	- 1569 руб. 0%

Категория: Научно-популярная литература, Физические науки

Книга содержит материалы, полезные как для общего понимания принципа ДОЭ-анализа, истории его создания и развития, так и практическую информацию по исследованию процессов в материалах при сильных пластических деформациях (равноканальное угловое прессование (РКУП), сварка трением с перемешиванием), а также для понимания трехмерного анализа границ раздела методом комбинации послойного травления материала с помощью фокусированного ионного пучка и исследования поверхности каждого слоя методом ДОЭ с последующей трехмерной реконструкцией набора двумерных данных ДОЭ. Перевод на русский язык второго оригинального издания книги МЕТОД ДИФРАКЦИИ ОТРАЖЕННЫХ ЭЛЕКТРОНОВ В МАТЕРИАЛОВЕДЕНИИ является одной из первых исчерпывающих коллективных монографий в этой области. Книга станет полезным настольным справочником для многих начинающих и практикующих специалистов в области электронной микроскопии, рентгеновского микроанализа и микротекстурного анализа материалов.